IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS

Publicaciones > Revista científica

Publicat per: Ieee-Inst Electrical Electronics Engineers Inc - ISSN: 02780046

Descripció

General: Ámbito: COMPUTER SCIENCES; ELECTRONICS AND TELECOMMUNICATIONS; INDUSTRIAL ENGINEERING; MATHEMATICS; Campo: AUTOMATION AND CONTROL SYSTEMS ; COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING ; ENGINEERING, ELECTRICAL AND ELECTRONIC

Temàtiques: Automation & control systems; Ciência da computação; Computer science applications; Control and systems engineering; Electrical and electronic engineering; Engenharias iii; Engenharias iv; Engineering, electrical & electronic; Instruments & instrumentation; Interdisciplinar

Aportació de la institució a la revista

Principals autors institucionals a la publicació:

Garcerá Sanfeliú, Gabriel - 16
Figueres Amorós, Emilio - 16
Antonino Daviu, José Alfonso - 14
Riera Guasp, Martín Víctor - 10
Pascual Molto, Marcos - 9
Pineda Sánchez, Manuel - 5
Benavent García, José Manuel - 5
García Gil, Pedro José - 4
Puche Panadero, Rubén - 4
Blasco Giménez, Ramón Manuel - 4
Abellán García, Antonio - 3
Pons Llinares, Joan - 3
Sanz Diaz, Ricardo - 3
Martínez Román, Javier Andrés - 2
Silvestre Blanes, Javier Lidiano - 2
Bernal Pérez, Soledad Inmaculada - 2
González Medina, Raul - 2
Añó Villalba, Salvador Conrado - 2
Segui Chilet, Salvador - 1
Hassan Mohamed, Houcine - 1
Manzoni, Pietro - 1
Orts Grau, Salvador - 1
Tormos Martínez, Bernardo Vicente - 1
Alcañiz Fillol, Miguel - 1
Perles Ivars, Ángel Francisco - 1
Martínez García, José Miguel - 1
Pelegrí Sebastiá, José - 1
Masot Peris, Rafael - 1
Tavares De Araujo Cesariny Calafate, Carlos Miguel - 1
Crespo Lorente, Alfons - 1
Desantes Fernández, José Mª - 1
Sala Piqueras, Antonio - 1
Serrano Martín, Juan José - 1
Gimeno Sales, Francisco José - 1
Cano Escribá, Juan Carlos - 1
Sempere Paya, Víctor Miguel - 1
Ruiz Sarrió, José Enrique - 1
Sandia Paredes, Jesús - 1
Cuenca Lacruz, Ángel Miguel - 1
Bonet Jara, Jorge - 1
Dunai, Larisa - 1
Martínez Rubio, Juan Miguel - 1

Veure més

Indicis de qualitat

Anàlisi de quartils

Q1

Q2

Q3

Q4

Evolució d'impactes

WoS

Seleccione filtros a mostrar:

WoS

Métricas

Veure revista a

Indexat a

Ciència oberta

Compartir