{rfName}
me

Indexat a

Anàlisi d'autories institucional

Almudever, C GAutor o coautor

Compartir

7 defebrer de 2025
Publicacions
>
Conferència publicada
No

memFET: from Gate Dielectric Breakdown to System Reconfigurability

Publicat a: IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. - 2013-01-01 (), DOI:

Autors:

Martin-Martinez, J; Crespo-Yepes, A; Rodriguez, R; Nafria, M; Almudever, C G; Rubio, A
[+]

Afiliacions

Univ Autonoma Barcelona, Dept Elect Engn, Edifici Q, E-08193 Barcelona, Spain - Autor o coautor
UPC, Dept Engn Elect, Barcelona 08034, Spain - Autor o coautor

Resum

In this paper, a new device concept, called hereafter memFET, is presented. The memFET exploits in MOSFETs the reversibility property of the dielectric breakdown (BD) in some materials, so that the potential device functionality is enlarged when compared to MIS/MIM structures. The memFET can be used to implement logic functions and memory blocks into a crossbar structure, allowing the dynamic logic configuration of the crossbar, opening paths to new adaptive computing hardware and fault-tolerant systems.
[+]

Paraules clau

Adaptive computinCmosCrossbarDielectric breakdownNon-volatile memoriesResistive switching

Indicis de qualitat

Impacte bibliomètric. Anàlisi de la contribució i canal de difusió

El treball ha estat publicat a la revista IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings a causa de la seva progressió i el bon impacte que ha aconseguit en els últims anys, segons l'agència Scopus (SJR), s'ha convertit en una referència en el seu camp. A l'any de publicació del treball, 2013, es trobava a la posició , aconseguint així situar-se com a revista Q1 (Primer Cuartil), en la categoria Engineering (Miscellaneous).

[+]

Reconeixements vinculats a l’ítem

This work has been partially supported by the Spanish MINECO (TEC2010-16126, TEC2010-10021-E, and TEC2008-01856 with additional participation of FEDER founds) and the Generalitat de Catalunya (2009SGR-783).
[+]