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Almudever, C GAutor o Coautor

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7 de febrero de 2025
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Conferencia Publicada
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memFET: from Gate Dielectric Breakdown to System Reconfigurability

Publicado en: IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. - 2013-01-01 (), DOI:

Autores:

Martin-Martinez, J; Crespo-Yepes, A; Rodriguez, R; Nafria, M; Almudever, C G; Rubio, A
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Afiliaciones

Univ Autonoma Barcelona, Dept Elect Engn, Edifici Q, E-08193 Barcelona, Spain - Autor o Coautor
UPC, Dept Engn Elect, Barcelona 08034, Spain - Autor o Coautor

Resumen

In this paper, a new device concept, called hereafter memFET, is presented. The memFET exploits in MOSFETs the reversibility property of the dielectric breakdown (BD) in some materials, so that the potential device functionality is enlarged when compared to MIS/MIM structures. The memFET can be used to implement logic functions and memory blocks into a crossbar structure, allowing the dynamic logic configuration of the crossbar, opening paths to new adaptive computing hardware and fault-tolerant systems.
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Palabras clave

Adaptive computinCmosCrossbarDielectric breakdownNon-volatile memoriesResistive switching

Indicios de calidad

Impacto bibliométrico. Análisis de la aportación y canal de difusión

El trabajo ha sido publicado en la revista IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings debido a la progresión y el buen impacto que ha alcanzado en los últimos años, según la agencia Scopus (SJR), se ha convertido en una referencia en su campo. En el año de publicación del trabajo, 2013, se encontraba en la posición , consiguiendo con ello situarse como revista Q1 (Primer Cuartil), en la categoría Engineering (Miscellaneous).

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Reconocimientos ligados al ítem

This work has been partially supported by the Spanish MINECO (TEC2010-16126, TEC2010-10021-E, and TEC2008-01856 with additional participation of FEDER founds) and the Generalitat de Catalunya (2009SGR-783).
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